M Electronics主机介绍-Solution非破坏性测漏仪：

TME Solution-C™测试系统藉由搭配专用的腔室进行无损、高灵敏的加压或真空衰减泄漏程序，可定量检测无法通过检修口进入的产品、易弯曲的医材、药品或食品包装，其检测出小至5微米的孔之泄漏，测试后的产品可再送回装配或包装生产线，这些密封测试在当今工业中已广泛使用。

l   代用腔室(Surrogate chambers)是使用专有技术定制设计和制造的，可最大程度地提高特定产品或包装上测试的灵敏度。

l   非破坏性真空或压力衰减泄漏测试所产生的高重复性定量结果，避免了测试过程中良品的损失。

l   触控屏选单可轻松输入和存储多达100个程序，并具有存储多达5000个的测试结果数据。

l   可以使用多种度量单位，包括PSI、In H2O、kPa和mbar。

l   FDA CFR Part 11数据保护是TME   Solution-C™仪器的标准配置，并且校准可追溯到NIST。

l   实时统计分析和质量控制图可依照需求查看，以实现最高水平的过程控制。

l   双向RS232连接阜是数据收集和远程参数控制的标准配置；以太网连接可用于将数据从仪器传输到局域网。